Библиотека Омского государственного университета им. Ф.М. Достоевского

Электронные ресурсы

Базы данных

Статьи из журналов: 2001-2014 - результаты поиска

Вид поиска

Электронный каталог

Статьи из журналов: 2001-2014

Труды ОмГУ

История ОмГУ

Сводный каталог периодических изданий вузовских библиотек г.Омска

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=сканирующие электронные микроскопы<.>)

Общее количество найденных документов : 10
Показаны документы с 1 по 10

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Ткаль В. А., Воронин Н. А., Соловьев В. Г., Алексеева Н. О., Панькова С. В., Яников М. В.
Заглавие : Вейвлет-обработка изображений нанокомпозитов, полученных сканирующим туннельным и электронным микроскопами
Серия: Исследование структуры и свойств .
Физические методы исследования и контроля .
Диагностика наноматериалов
Место публикации : Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2009. - Т. 75, N 6. - С.37-39. - ISSN 1028-6861. - ISSN 1028-6861
Примечания : Библиогр.: с. 39 (4 назв. )
УДК : 537.533/.534 + 004.93
ББК : 22.338 + 32.973-018.2
Предметные рубрики: Физика
Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях
Вычислительная техника
Распознавание и преобразование образов
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): вейвлет-обработка изображений--изображения нанокомпозитов--сканирующие туннельные микроскопы--сканирующие электронные микроскопы--электронные микроскопы--туннельные микроскопы--микроскопы--цифровая обработка изображений--нанотехнологические комплексы--элайзинг--вейвлет-анализ
Аннотация: Описана методика цифровой обработки изображений, полученных на нанотехнологическом комплексе, позволяющая эффективно устранять затрудняющие анализ факторы - слабую контрастность и фоновую неоднородность изображений.
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 681.2/П 304
Автор(ы) : Петрина, Алла Макаровна (канд. техн. наук), Майнашева, Галина Макаровна,
Заглавие : Информационно-измерительные системы в нанотехнологиях / А. М. Петрина, Г. М. Майнашева
Серия: Информационные системы
Разночтения заглавия :Вар. загл.: Введение; Вар. загл.: Измерение структуры вещества и локальных свойств поверхности; Вар. загл.: Выводы
Место публикации : Научно-техническая информация. Сер. 2, Информационные процессы и системы. - 2010. - N 7. - С. С. 13-23: Ил.: 8 рис. - ISSN 0548-0027. - ISSN 0548-0027
Примечания : Библиогр.: с. 22-23 (31 назв. )
УДК : 681.2 + 539.2
ББК : 34.9. Таблицы для массовых библиотек + 22.37. Таблицы для массовых библиотек
Предметные рубрики: Приборостроение
Приборостроение в целом
Физика
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): атомные туннельные микроскопы--информационно-измерительные системы--микроскопы--наноробототехника--нанотехнологии--приборы--сканирующая микроскопия--сканирующие атомные микроскопы--сканирующие микроскопы--сканирующие приборы--сканирующие туннельные силовые микроскопы--сканирующие электронные микроскопы--туннельные микроскопы--туннельные силовые микроскопы--локальные свойства поверхности--структура вещества
Аннотация: Приводится обзор по информационно-измерительным системам, используемым в нанотехнологии, в состав которых включены такие устройства, как сканирующие электронные микроскопы, сканирующие атомные микроскопы, сканирующие атомно-силовые микроскопы и манипулирующие инструменты. Описываются их физические характеристики и приводятся примеры использования в роботизированной наносборке.
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.315.592/Р 258
Автор(ы) : Рау Э. И., Орликовский Н. А., Иванова Е. С.,
Заглавие : Функция отклика и оптимальная конфигурация полупроводниковых детекторов отраженных электронов для сканирующих электронных микроскопов / Э. И. Рау, Н. А. Орликовский, Е. С. Иванова
Серия: Физика полупроводниковых приборов
Место публикации : Физика и техника полупроводников. - 2012. - Т. 46, вып. 6. - С. С. 829-832: ил. - ISSN 0015-3222. - ISSN 0015-3222
Примечания : Библиогр.: с. 832 (14 назв.)
УДК : 621.315.592
ББК : 31.233
Предметные рубрики: Энергетика
Полупроводниковые материалы и изделия
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): полупроводниковые детекторы--отраженные электроны--оэ--растровые электронные микроскопы--рэм--сканирующие электронные микроскопы--электроны--отклики детекторов
Аннотация: Предлагается новая высокоэффективная конструкция полупроводниковых детекторов электронов средних энергий (1-50 кэВ) для применения в сканирующих электронных микроскопах. Расчеты функции отклика усовершенствованных детекторов и контрольные эксперименты показывают, что эффективность разработанных устройств повышается в среднем в 2 раза, что является существенным положительным фактором при работе современных электронных микроскопов в режиме малых токов и при низких энергиях первичных электронов.
Перейти: http://journals.ioffe.ru/ftp/2012/06/p829-832.pdf
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382/К 149
Автор(ы) : Казьмирук В. В.,
Заглавие : Сканирующие электронные микроскопы МикроСкан серии МС20 / В. В. Казьмирук
Место публикации : Известия РАН. Серия физическая. - 2008. - Т. 72, N 11. - С. С. 1550-1553: рис. - ISSN 0367-6765. - ISSN 0367-6765
Примечания : Библиогр.: c. 1553 (2 назв. )
УДК : 621.382
ББК : 32.852. Таблицы для массовых библиотек
Предметные рубрики: Радиоэлектроника
Полупроводниковые приборы
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): сканирующие электронные микроскопы--микролитографы--системные модули--видеоконтрольные устройства--электронно-лучевая литография--принцип модульности--ионно-оптические системы
Аннотация: В ИПТМ РАН разработана новая серия сканирующих электронных микроскопов (СЭМ) МикроСкан-МС20. Основная их отличительная особенность - модульность конструкции абсолютно всех узлов и систем, что позволило достичь высокого уровня унификации.
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.186:547.447/К 824
Автор(ы) : Чемерис А. И., Жовклый В. Ю., Чемерис И. И., Филатова А. Г., Белавцева Е. М.,
Заглавие : Криостат РУПИК к сканирующему электронному микроскопу для послойного исследования структуры различных объектов / А. И. Чемерис, В. Ю. Жовклый, И. И. Чемерис и др
Место публикации : Известия РАН. Серия физическая. - 2009. - Т. 73, N 4. - С. С. 489-491: рис. - ISSN 0367-6765. - ISSN 0367-6765
Примечания : Библиогр.: c. 491 (8 назв. )
УДК : 620.186:547.447
ББК : 30.3. Таблицы для массовых библиотек
Предметные рубрики: Техника
Материаловедение
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): криотехника--электронная микроскопия--сканирующие электронные микроскопы--фотопленки--суспензии древесины--криостаты--криостат рупик
Аннотация: Описаны конструктивные особенности криостата РУПИК к сканирующему электронному микроскопу РЭМ-100У.
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 666.3/.7/Т 654
Автор(ы) : Гольдберг М. А., Фомин А. С., Петракова Н. В., Федотов А. Ю., Шворнева Л. И., Смирнов В. В., Попова А. В., Баринов С. М.,
Заглавие : Трансформация гипса в фосфаты кальция / М. А. Гольдберг, А. С. Фомин, Н. В. Петракова и др
Серия: Химическая технология
Место публикации : Доклады Академии наук. - 2012. - Т. 444, № 3, май. - С. С. 275-278: 2 рис. - ISSN 0869-5652. - ISSN 0869-5652
Примечания : Библиогр.: с. 278
УДК : 666.3/.7
ББК : 35.43. Таблицы для массовых библиотек
Предметные рубрики: Химическая технология
Стекло и стеклоизделия
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): химические трансформации гипса--фосфаты кальция--сканирующие электронные микроскопы
Аннотация: Представлены результаты исследования химической трансформации гипса в фосфаты кальция.
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 537.533/.534/У 761
Автор(ы) : Гостев А. В., Орликовский Н. А., Рау Э. И., Трубицын А. А.,
Заглавие : Усовершенствование электронного тороидального спектрометра для растрового электронного микроскопа и его новые применения в диагностике структур микро- и наноэлектроники / А. В. Гостев, Н. А. Орликовский, Э. И. Рау, А. А. Трубицын
Серия: Физические приборы и методы эксперимента
Место публикации : Журнал технической физики. - 2013. - Т. 83, № 3. - С. С. 140-147. - ISSN 0044-4642. - ISSN 0044-4642
Примечания : Библиогр.: c. 147 (31 назв. )
УДК : 537.533/.534
ББК : 22.338. Таблицы для массовых библиотек
Предметные рубрики: Физика
Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): электронные тороидальные спектрометры--тороидальные спектрометры--спектрометры--растровые электронные микроскопы--электронные микроскопы--электростатические тороидальные спектрометры--сканирующие электронные микроскопы--неразрушающая диагностика--топологический контроль--томография в обратно рассеянных электронах--энергетическая фильтрация вторичных электронов--мониторинг легированных кристаллов--спектры электронов--медленные вторичные электроны--упругоотраженные электроны
Аннотация: Описана новая версия электростатического тороидального спектрометра электронов, инсталлированного в сканирующий электронный микроскоп. Прибор позволил провести научно-исследовательские и прикладные работы в области высоколокальной неразрушающей диагностики материалов и приборных структур микро- и наноэлектроники. Приведены примеры по топологическому контролю трехмерных микроструктур методом томографии в обратнорассеянных электронах. Показана высокая эффективность приема энергетической фильтрации вторичных электронов при мониторинге локально легированных участков примесями p- и n-типа в полупроводниковых кристаллах. Дано физическое обоснование высокого контраста изображений легированных областей. Продемонстрирована возможность измерения в сканирующем электронном микроскопе спектров электронов во всем энергетическом диапазоне от медленных вторичных до упругоотраженных.
Перейти: http://journals.ioffe.ru/jtf/2013/03/p140-147.pdf
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 66/К 637
Автор(ы) : Петюшик Е. Е., Евтухова Т. Е., Клевченя Д. И., Романенков В. Е., Афанасьева Н. А., Пинчук Т. И.,
Заглавие : Композиционный проницаемый материал на основе углеродного волокна / Е. Е. Петюшик, Т. Е. Евтухова, Д. И. Клевченя и др
Серия: Химическая технология
Место публикации : Известия вузов. Химия и химическая технология. - 2013. - Т. 56, вып. 5. - С. С. 99-104: 7 рис., 1 табл. - ISSN 0579-2991. - ISSN 0579-2991
Примечания : Библиогр.: с. 103-104 (10 назв.)
УДК : 66
ББК : 35. Таблицы для массовых библиотек
Предметные рубрики: Химическая технология
Общие вопросы химической технологии
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): объемные проницаемые адсорбенты--углеродные волокнистые материалы--порошки алюминия--гидратационное твердение--сканирующие электронные микроскопы--низкотемпературная адсорбция азота--механическая прочность--рентгенофазовый анализ
Аннотация: Приведены результаты исследований структуры и свойств проницаемого материала, полученного методом гидратационного твердения промышленного дисперсного алюминия с углеродным волокном в качестве инертного наполнителя.
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 546/Д 534
Автор(ы) : Дмитриев А. В., Башарин И. А.,
Заглавие : Поверхность разрушения графитовой руды / А. В. Дмитриев, И. А. Башарин
Серия: Химия
Место публикации : Известия вузов. Химия и химическая технология. - 2013. - Т. 56, вып. 7. - С. С. 26-30: 4 рис. - ISSN 0579-2991. - ISSN 0579-2991
Примечания : Библиогр.: с. 30 (9 назв.)
УДК : 546 + 544
ББК : 24.1. Таблицы для массовых библиотек + 24.5
Предметные рубрики: Химия
Общая и неорганическая химия в целом
Физическая химия в целом
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): графиты--скрытокристаллические графиты--графитовые руды--поверхности разрушения--слоистость--листочки графита--агрегация--минеральные прослойки--сканирующие электронные микроскопы
Аннотация: Выполнен СЭМ анализ поверхности пластинчатых частиц порошка, полученного разрушением разрывом при нагреве увлажненных кусков руды скрытокристаллического графита. Плоские поверхности частиц образованы расщеплением вдоль слоев сланцеватости толщиной 2-4 мкм. Торцевые поверхности образованы сколами поперек слоев. В поверхностном слое выявлены кристаллы явно кристаллического графита и внутрислоевые расслоения на отдельные листочки нанометровой толщины.
Найти похожие

10.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 543.4/.5/А 674
Автор(ы) : Анисимов А. А., Аронин А. С., Першина Е. А.,
Заглавие : Повышение пространственной разрешающей способности для рентгеновского микроанализа в сканирующем электронном микроскопе / А. А. Анисимов, А. С. Аронин, Е. А. Першина
Коллективы : Институт физики твердого тела РАН (Черноголовка), Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС" (Москва), Институт физики твердого тела РАН (Черноголовка), Институт физики твердого тела РАН (Черноголовка)
Серия: Исследование структуры и свойств .
Физические методы исследования и контроля
Место публикации : Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2014. - Т. 80, № 6. - С. С. 34-36. - ISSN 1028-6861. - ISSN 1028-6861
Примечания : Библиогр.: с. 36 (3 назв. )
УДК : 543.4/.5
ББК : 24.46/48. Таблицы для массовых библиотек
Предметные рубрики: Химия
Физико-химические методы анализа
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): пространственная разрешающая способность--рентгеновский микроанализ--сканирующие электронные микроскопы--микроскопы--тонкие образцы--приставки--элементный анализ--геометрия на отражение
Аннотация: Экспериментально изучены возможности использования приставки для рентгеновского микроанализа в традиционном сканирующем микроскопе при анализе элементного состава тонких сечений образцов в геометрии "на отражение".
Найти похожие

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)