535.422 С 160 Салащенко, Н. Н. Влияние неровностей краев субмикронных отверстий на дифракцию света [Текст] / Н. Н. Салащенко, М. Н. Торопов, Н. И. Чхало // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2008. - N 7. - С. 3-5 . - ISSN 0207-3528
Рубрики: Физика Оптика в целом Кл.слова (ненормированные): субмикронные отверстия -- дифракция света -- скалярная теория Кирхгофа-Гельмгольца -- Кирхгофа-Гельмгольца скалярная теория Аннотация: В рамках скалярной теории Кирхгофа-Гельмгольца рассматривается дифракция света на отверстии произвольной формы в плоскости экрана с бесконечной проводимостью, средний диаметр которого сравним с длиной волны падающего излучения ламбда = 633 нм. Рассмотрен случай нормального падения. Амплитудные и фазовые характеристики дифрагированного поля рассчитываются на сферической поверхности. Доп.точки доступа: Торопов, М. Н.; Чхало, Н. И. |