Медведев, Ю. В.     Диагностика тепловых кинетических коэффициентов для оптимизации характеристик пленочных болометров [Текст] / Ю. В. Медведев, Ю. М. Николаенко, А. М. Гришин, С. И. Харцев // Журнал технической физики. - 2002. - Т.72,N1. - Библиогр.: с.124 (15 назв.) . - ISSN 0044-4642 Рубрики: Физика--Молекулярная физика Кл.слова (ненормированные): болометры -- импульсная микроволновая техника -- манганиты -- пленочные структуры Аннотация: На основе импульсной микроволновой техники развита методика быстрой и корректной диагностики полного набора тепловых кинетических коэффициентов в однослойных пленочных структурах. Метод применен к La0.7(Pb0.7Sr0.3)0.3MnO3 пленкам на подложках LaAlO3 и SrTiO3 с рекордным значением температурного коэффициента сопротивления 5-7% для манганитсодержащих материалов при "комнатной" температуре. На основе численного моделирования проанализирована возможность улучшения характеристик неохлаждаемых болометров за счет изменения теплопроводности подложки, а также создания оптимальных пленочных структур за счет согласованного выбора величин тепловых сопротивлений на интерфейсах пленка--подложка и подложка--термостат Доп.точки доступа: Николаенко, Ю.М.; Гришин, А.М.; Харцев, С.И.